BS EN 60749-23-2004 半导体器件.机械和气候试验方法.高温操作寿命

作者:标准资料网 时间:2024-05-10 13:56:27  浏览:9026   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Hightemperatureoperatinglife
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.高温操作寿命
【标准号】:BSEN60749-23-2004
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2004-06-24
【实施或试行日期】:2004-06-24
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:环境试验;定义;集成电路;机械试验;试验;电气工程;电子设备及元件;半导体;组件;水分检验;温度试验;寿命;半导体器件;电学测量;应力时间;气候;电子工程;寿命试验;气候试验;预应力
【英文主题词】:Bondstrength;Climate;Climatictests;Components;Defects;Definition;Definitions;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Environmentaltests;High-temperaturetesting;Integratedcircuits;Life(durability);Lifetest;Mechanicaltesting;Moisturetest;Performanceinservice;Prestress;Qualityassurance;Semiconductordevices;Semiconductors;Simulation;Stresstime;Temperaturetest;Testing
【摘要】:Thistestisusedtodeterminetheeffectsofbiasconditionsandtemperatureonsolidstatedevicesovertime.Itsimulatesthedeviceoperatingconditioninanacceleratedway,andisprimarilyusedfordevicequalificationandreliabilitymonitoring.Aformofhightemperaturebiaslifeusingashortduration,popularlyknownas"burn-in",maybeusedtoscreenforinfantmortalityrelatedfailures.Thedetaileduseandapplicationofburn-inisoutsidethescopeofthisstandard.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:12P.;A4
【正文语种】:英语