GB 19217-2003 医疗废物转运车技术要求（试行）
作者:标准资料网 时间:2024-05-10 18:19:47 浏览:9271
来源:标准资料网
基本信息
| 标准名称： | 医疗废物转运车技术要求（试行） |
| 英文名称： | Technical standard for medical waste transport vehicle |
| 中标分类： |
环境保护 >>
污染物排放标准 >>
流动污染源排放标准 |
| ICS分类： |
环保、保健与安全 >>
废物 >>
废物综合
|
| 发布部门： | 国家环境保护总局 国家质量监督检验检疫总局 国家发展和改革委员会 |
| 发布日期： | 2003-06-30 |
| 实施日期： | 2003-06-30 |
| 首发日期： | 2003-06-30 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 主管部门： | 国家环境保护总局 |
| 提出单位： | 国家环境保护总局科技标准司 |
| 归口单位： | 国家环境保护总局 |
| 起草单位： | 中国环境科学院环境标准研究所 |
| 出版社： | 中国环境科学出版社 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
| 页数： | 8页 |
适用范围
本标准规定了医疗废物转运车的特殊要求。
本标准适用于对已定型的保温车、冷藏车进行适当改造、用于转运医疗废物的专用货车。
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 环境保护 污染物排放标准 流动污染源排放标准 环保 保健与安全 废物 废物综合
基本信息
| 标准名称： | ＬＣ２０１型射频干扰滤波器详细规范 |
| 英文名称： | Filters,radio-frequency interference,Type LC201,Detail specification for |
| 中标分类： |
石油 >>
石油综合 >>
技术管理 |
| 发布部门： | 中国电子工业总公司 |
| 发布日期： | 1992-11-19 |
| 实施日期： | 1993-05-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 提出单位： | 机械电子工业部 |
| 归口单位： | 军用电子元件标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 715厂和中国电子技术标准化研究所 |
| 起草人： | 霍光、赵以明、张昌仁、张榴桢 |
| 出版社： | 电子工业出版社 |
| 出版日期： | 1993-04-01 |
| 页数： | 6页 |
适用范围
本规范规定了LC20l型射额干扰滤波器结构、尺寸主要参数和要求.本规范适用于要求降低射频干扰的各种电子设备中，其有效抑制频段为lO~1000ＭHz，额定电压l00V，最大电流达10A的滤波器.本规范规定的滤波器的完整要求，由本规范和GJBl5l8-92《射频干扰滤波器总规范》组成.
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
GJB 360.5-1987 电子和电气元件试验方法 低气压试验
GJB 360.8-1987 电子和电气元件试验方法 高温下的寿命试验
GJB 1518-1992 射频干扰滤波器总规范
所属分类： 石油 石油综合 技术管理
【英文标准名称】:StandardTestMethodforEstimatingElectromigrationMedianTime-to-FailureandSigmaofIntegratedCircuitMetallizations[Metric]
【原文标准名称】:集成电路金属喷镀总量和电迁移中值失效时间的评定标准试验方法(米制单位)
【标准号】:ASTMF1260M-1996(2003)
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:1996
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:F01.11
【标准类型】:(TestMethod)
【标准水平】:()
【中文主题词】:电压;试验;电流;微电器件;失效时间;空气应力温度;密度应力;电迁移;电迁移中值时间;试验结构;电子探测器;故障端点;器件;总量;应力;集成电路;喷镀金属;缺陷与故障;高温试验;硅半导体;加速老化
【英文主题词】:electromigration;electromigrationmetallization;integratedcircuit;microelectronics;opencircuit;resistanceincrease;time-to-failure
【摘要】:1.1Thistestmethodisdesignedtocharacterizethefailuredistributionofinterconnectmetallizationssuchasareusedinmicroelectroniccircuitsanddevicesthatfailduetoelectromigrationunderspecifiedd-ccurrentdensityandtemperaturestre
【中国标准分类号】:L55
【国际标准分类号】:
【页数】:8P.;A4
【正文语种】:
